Петък, Септември 22, 2017

LEXT OLS4100

OLS4100 comp

Разработеният от Olympus нов сканиращ дигитален микроскоп LEXT OLS4100 позволява безконтактно 3D наблюдение и измерване на повърхности с резолюция 10 нанометра. Tой е разработен на базата на двойна конфокална система, включваща два конфокални оптични светлинни пътя. В комбинация с високо чуваствителния детектор за прецизно 3D микроскопско изображение, системата е приложима за изследване на  материали с различни рефлектни характеристики. Индустриалният микроскоп OLS4100 има впечатляващи възможности за бързо обработване на изображения и висока резолюция за големи площи от наблюдавани повърхности. Първата микроскопска система, която осигурява Индустриална Двойна Гаранция – За точност и повтаряемост.

За повече информация: тук

Вход за потребители

Регистрация

Регистрация * * Задължително поле

Името, което въведохте е невалидно.
Моля въведете валидно потребителско име. Без интервали, най-малко 2 символа и не трябва да съдържа следните символи: \ " ' % ; ( ) &
Парола е невалиден.
Паролите които въведохте не съвпадат. Моля, въведете желаната от вас парола в полето за паролата и потвърдете, като го въведете паролата в полето повтори паролата
Невалиден е-мейл адрес
Е-мейл адресите, които въведохте не съвпадат. Моля, въведете желаният от вас е-мейл в полето за е-мейл и потвърдете, като го въведете е-мейл адреса в полето повтори е-мейл адрес